基于 WIoU-v1 定位损失与负样本训练的绝缘子缺陷检测方法
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刊名 《机械工程》
作者 宗峻龙;李明铎* (华北理工大学电气工程学院 河北唐山 063210) 英文名 Mechanical engineering 年,卷(期) 2026年,第6期
主办单位 环宇科学出版社;华文国际出版社 刊号 ISSN:2661-3530(P)/2661-3549(O) DOI

基于 WIoU-v1 定位损失与负样本训练的绝缘子缺陷检测方法

针对无人机巡检图像中绝缘子缺陷目标尺度小、背景干扰较多的问题,构建一种结合 WIoU-v1 定位损失与正常负样本训 练的绝缘子缺陷检测方法。该方法以 YOLOv8n 为检测器,在保持分类损失和分布焦点损失不变的条件下,以 WIoU-v1 替换边界 框回归中的 IoU 项,并将正常绝缘子图像作为无目标样本参与训练。在公开 Chinese Power Line Insulator Dataset(CPLID)的固定 划分上,模型以 416×416 像素输入训练 40 轮;独立测试集包含 37 张缺陷图像和 90 张正常图像。测试结果表明,模型的 Precision、 Recall、F1、mAP@0.5 和 mAP@0.5:0.95 分别为 0.8188、1.0000、0.9004、0.8951 和 0.6802,CPU 单图推理耗时为 17.73 ms。定性样 例显示,预测框能够覆盖缺陷标注区域。该研究给出了 WIoU-v1 在该固定公开数据划分下的可复现实验记录,其结论仅适用于所 采用的数据构成与训练条件。

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